Yüksek Performanslı Bilgisayar Sistemlerinde Dram ve Sram Modüllerinin Güvenilirliğinin Analizi: Karşılaştırmalı Bir Vaka Çalışması

Abstract

Bu tez, yüksek performanslı bilgisayar sistemlerinin ayrılmaz parçaları olan DRAM ve SRAM modüllerinin güvenilirliğine yönelik kapsamlı bir analiz sunmaktadır. Ücretsiz bir MTBF hesaplayıcıdan alınan veriler kullanılarak yapılan araştırma, DRAM ve SRAM modüllerine yönelik dört adet vaka çalışması etrafında yapılandırılmıştır - her biri bileşen ve sistem güvenilirliğine odaklanmaktadır. Araştırma, çeşitli işletim senaryolarını kapsayarak, bu modüllerin veri işleme, bulut hizmetleri ve telekomünikasyon ağlarındaki dayanıklılığını vurgulamaktadır. Ortalama Arıza Süreleri (MTBF) ve Arıza Oranı değerlendirilerek, bu hafıza bileşenlerinin güvenilirliği hakkında içgörüler sunmayı ve güvenilirlik tahmini için farklı istatistiksel yöntemleri değerlendirmeyi amaçlamaktadır. Benimsenen metodoloji, bu modüller için tipik olan gerçek dünya işletim koşullarını ve ortamlarını yansıtarak, sistem performansına olan güvenilirlik etkilerine detaylı bir bakış sunmaktadır. Bu çalışma, hafıza modülü güvenilirliğinin daha derin bir anlayışına katkıda bulunarak, karmaşık bilgisayar ortamlarında tasarım ve işletim kararlarına rehberlik etmektedirThis thesis presents a comprehensive analysis of the reliability of DRAM and SRAM modules, integral components in high-performance computing systems. Utilizing data from a free MTBF calculator, the research is structured around four case studies - two each for DRAM and SRAM modules, focusing on component and system reliability. The investigation encompasses various operational scenarios, highlighting the resilience of these modules in data processing, cloud services, and telecommunication networks. By assessing Mean Time Between Failures (MTBF) and Failure Rate, the thesis aims to provide insights into the reliability of these memory components and evaluate different statistical methods for reliability estimation. The methodology adopted reflects realworld operational conditions and environments typical to these modules, offering a detailed view of the reliability impacts on system performance. This study contributes to a deeper understanding of memory module reliability, guiding design and operational decisions in complex computing environments